作者darkbishop (自由山丘上的春樹)
看板Chemistry
標題[實驗] XRD圖譜分析
時間Fri Dec 27 23:17:53 2013
最近在做一個實驗
蒙脫土高分子複合材料
主要是先將蒙脫土粉末浸泡在水或酒精中使其膨潤
之後加入插層劑(四級銨鹽)共同強攪拌
原理是希望大分子插層劑與蒙脫土中的K+置換
藉此撐開蒙脫土的層板結構
之後烘乾磨粉
此時要去打一次XRD 與 未插層的MMT(僅含K+)的XRD相互做比較
想請問一下 XRD的Y軸 intensity應有何變化 peak變高或變低?
理想上晶體間的間距變大了 peak會變高還是變低?
小蛇的老師說都沒peak或很小才算成功
另外 插層後的蒙托土還要再跟PEO2000混摻
這次不是插層 而是"脫層" 理想上好像是希望PEO能讓蒙托土變成amorphous
我的理解是將晶面間距撐大到變成非晶型的樣子
如果是這樣 peak又該如何變化呢?
因為問題有點長
詳細解答者 站內500P 感謝!
急!
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1F：推 xgodtw:樓下你猜marklin的雞雞等下會怎麼樣?06/08 01:23
2F：推 marklin:========================會爆==========================06/08 01:23
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※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc)
◆ From: 140.116.112.101
3F：→ kdjf:看起來插層時己經把結晶打散了,XRD是結晶越大/整齊峰越高/尖 12/28 08:52
4F：推 plowp:插層後 某些peak會往小角度移動 因為層間距變大 12/28 17:41
5F：→ plowp:脫層後 peak會變小或消失 因為層狀結構被破壞掉 12/28 17:42