A.是被控侵權物落入灌了水還沒瘦身的專利範圍，即適用均等論； 而後再以先前技術加以阻卻。 Typically, a "hypothetical" claim is drafted to read on the accused device or system. A hypothetical claim may be constructed to literally cover the accused device. Id. If such a claim would be unpatentable under 35 U.S.C. §§ 102 or 103, then the patentee has overreached, and the accused device is noninfringing as a matter of law. B.是被控侵權物落入灌了水又瘦身後的專利範圍，才適用均等論。 (4)被控侵權物品之差異部分不可與專利發明申請時之公知技術同一，或為公知技術所能 輕易推想。 美國與日本對於此點間的差界是， 美國刻意去撰寫一個“hypothetical claim”進行可專利性判斷，而 日本是直接以“被控侵權物品”進行可專利性判斷。 雖然如此，但是直接將“被控侵權物品”，用文字描術後， 那麼該些文字應該就是“hypothetical claim”。 所以，兩者間實質上應無差異。 倒是日本均等論適用要件的第一點，和美國的有差異。 (1)被控侵權物品與申請專利範圍之差異部分，非專利發明之本質部分， Claim：I + d +E + s 其中第1及3個元件( I及 E )為具可專利性的特徵時，I及E會被認為專利發明之本質部分 不得適用均等論。 僅有第2及4個元件( d 及 s )可適用均等論。 滿奇怪的，不知要件(1)的法理為何？ --

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