作者chmod (chmod)
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標題[問題] 請問ic上的電晶體有容錯機制嗎
時間Thu Apr 13 19:03:03 2023
請問ic上的電晶體有容錯機制嗎?
ic上的電晶體幾百億個
全部成功 一個都作沒失敗 覺得很誇張
一個失敗了就報廢一顆晶片 好像也不太可能
所以到底是怎樣呢
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問了幾個在台積 聯發科的朋友都說不知道
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1F:→ god145145: 螢幕壞一點也是能看 大概是這概念 04/13 19:22
2F:推 DRQX: 不要用數位的觀念看類比系統 04/13 19:33
3F:推 hsucheng: 看你是怎樣錯啊 function還是manufacturing 04/13 21:15
4F:→ hsucheng: 有drc lvs formal卡關 還會錯是誰的問題 04/13 21:15
5F:推 hsucheng: post sim沒有考慮process variation或是design margin? 04/13 21:23
6F:推 FTICR: 不會壞幾顆就整個晶片不能用 04/13 22:07
7F:→ tomsawyer: 有些有double via之類的容錯 04/14 02:01
8F:推 tkhan: 有測試刷掉不能用的ic,就是良率問題 04/14 07:41
9F:推 lovealgebra: 你的錯是什麼意思?degradation ? 04/15 13:52
10F:→ samm3320: 看成本吧,你要double via跑出來面積就比較大 04/15 17:50
11F:→ samm3320: 如果你是車規要更安全也可以放備援系統 04/15 17:51
12F:推 furio: 你買隨身碟很多同規格容量差一點點,就是這因素 04/15 20:13
13F:推 BellCranell: DFT有卡 量率CPFT有卡 那剩下會有問題就自然損耗或人 04/16 14:20
14F:→ BellCranell: 為而已 04/16 14:20
15F:→ chmod: 錯指的是電晶體不能正常運作 04/17 23:18
16F:推 Schottky: 何謂正常,Beta 值上下偏移嗎,那在 Spec 上範圍寫大點 04/18 02:17
17F:→ Schottky: 先射箭再畫靶就好,這麼簡單 04/18 02:18