作者chmod (chmod)
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标题[问题] 请问ic上的电晶体有容错机制吗
时间Thu Apr 13 19:03:03 2023
请问ic上的电晶体有容错机制吗？
ic上的电晶体几百亿个
全部成功 一个都作没失败 觉得很夸张
一个失败了就报废一颗晶片 好像也不太可能
所以到底是怎样呢
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问了几个在台积 联发科的朋友都说不知道
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1F：→ god145145: 萤幕坏一点也是能看 大概是这概念 04/13 19:22
2F：推 DRQX: 不要用数位的观念看类比系统 04/13 19:33
3F：推 hsucheng: 看你是怎样错啊 function还是manufacturing 04/13 21:15
4F：→ hsucheng: 有drc lvs formal卡关 还会错是谁的问题 04/13 21:15
5F：推 hsucheng: post sim没有考虑process variation或是design margin? 04/13 21:23
6F：推 FTICR: 不会坏几颗就整个晶片不能用 04/13 22:07
7F：→ tomsawyer: 有些有double via之类的容错 04/14 02:01
8F：推 tkhan: 有测试刷掉不能用的ic,就是良率问题 04/14 07:41
9F：推 lovealgebra: 你的错是什麽意思？degradation ? 04/15 13:52
10F：→ samm3320: 看成本吧，你要double via跑出来面积就比较大 04/15 17:50
11F：→ samm3320: 如果你是车规要更安全也可以放备援系统 04/15 17:51
12F：推 furio: 你买随身碟很多同规格容量差一点点，就是这因素 04/15 20:13
13F：推 BellCranell: DFT有卡 量率CPFT有卡 那剩下会有问题就自然损耗或人 04/16 14:20
14F：→ BellCranell: 为而已 04/16 14:20
15F：→ chmod: 错指的是电晶体不能正常运作 04/17 23:18
16F：推 Schottky: 何谓正常，Beta 值上下偏移吗，那在 Spec 上范围写大点 04/18 02:17
17F：→ Schottky: 先射箭再画靶就好，这麽简单 04/18 02:18