※ 引述《zxuloandy (尧)》之铭言： : 如果用X光结晶绕射法观察两个不同尺度大小的样本 : 比如说观察奈米级(约50nm)particle的 Si powder 和观察一般尺寸大小(几mm)的 Si : powder : 这两种情况所得到的绕射图案有什麽差别啊，是不是用奈米级particle的 Si powder : 比较好?? : 呵胡尘涤考到这个，想问大家，还是说这在课本上找的到啊哈哈?? : -- :

※ 发信站: 批踢踢实业坊(ptt.cc) : ◆ From: 123.204.194.9 : → eggplantjack:绕射峰比较宽? 11/01 13:05 : 推 bla:nanoparticle会出现particle形成的平面绕射峰 (我乱讲的 = =) 11/01 19:56 : 推 afunism:nanoparticles由於结晶度较差导致绕射峰变宽 11/01 20:34 nanoparticle如果有anneal过....结晶性不一定比较差，要稍微注意一下， 没有anneal过的粉末，除了结晶性的问题，还要考虑到strain造成的绕射锋偏移， 如果是用磨出来的奈米粉末，这种问题会更明显， 可参考Elements of XRD by B.D. Cullity 的 Strain separation部分， Williamson-Hall plot很清楚指出球磨产生的strain，与使用anneal移除strain的现象。 --

※ 发信站: 批踢踢实业坊(ptt.cc) ◆ From: 114.36.13.183