作者littlest (读册人...)
看板ChemEng
标题[问题] 关於Ni结晶度的量测 (急~~~)
时间Sun Apr 3 00:22:11 2011
※ [本文转录自 PhD 看板 #1DbqjyjW ]
作者: littlest (读册人...) 看板: PhD
标题: [问题] 关於Ni结晶度的量测 (急~~~)
时间: Sun Apr 3 00:14:49 2011
之前投稿一篇paper, 关於利用无电电镀得到多孔性结晶镍的研究,
最近结果回来了, major revision,
我们用了SAED跟XRD监定合成出来了镍是高度结晶性的,
可是reviewer给的其中一段comments是这样的:
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Both SAED and XRD can only detect crystalline impurities,
but I would expect at least the presence of an amorphous oxide layer.
Photoemission spectroscopy should be used to check for the presence of
an oxide layer.
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因为这一篇研究是我第一次跨到金属材料领域, 所以有些地方不是很了解,
想请问对於金属材料监定熟悉的专家, 如果从我的SAED跟XRD结果,
都无法明显看到 NiO 或是 Ni(OH)2 的存在时, 真的如reviewer讲得, 证据仍不足,
还是要做 XPS 的量测吗? 还是说有其他更简单跟直接的证据去说服这件事呢?
此外, 若要量测多孔性材料的密度时,
有什麽方法可以量测小量的sample?
(因为sample量很少, 所以希望检测的方法越不消耗sample越好)
因为editor给我的回覆时间只有三星期, 怕时间会来不及做实验,
谢谢各位大大回覆
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◆ From: 61.216.0.93
※ littlest:转录至看板 Chemistry 04/03 00:21
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◆ From: 61.216.0.93
1F：推 NBL123:不知道你TEM的试样是怎麽做的 如果是cross section 04/03 01:11
2F：→ NBL123:有没有oxide layer应该很清楚看得出来 04/03 01:12
3F：推 GSJ:同楼上 看看HR有没有 amorphous layer就好啦 04/06 23:50