作者gecer (gecer)
看板Electronics
标题[问题] 请问几个半导体测试的专有名词
时间Sat Aug 13 20:10:18 2016
小弟看到半导体测试机会有参数名称 "probe to pad alignment" "Overdrive"
请教这两个名词是什麽意思?
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1F：推 chen20: OD针压 08/14 13:51
2F：推 ece8324: probe to pad alignment 指的应是待被测试元件上的 test 08/14 16:38
3F：→ ece8324: pad 与测试配件(例如probe card,中译为探针卡)需做好定位 08/14 16:38
4F：→ ece8324: (alignment)的动作，才能做正确有效的测试 08/14 16:38
5F：→ ece8324: 上述有效正确的测试，除了要做定位(alignment)外，该测试 08/14 16:44
6F：→ ece8324: 配件亦需许加上适当的针压(O/D: overdrive)在该待测试元 08/14 16:44
7F：→ ece8324: 件上 08/14 16:44
8F：→ ece8324: 定位动作的做法是，找寻该待测试元件上的特殊唯一的图案( 08/14 16:48
9F：→ ece8324: pattern)，去对每个待测试元件定位 08/14 16:48
10F：→ ece8324: 如有错误，请指正 08/14 16:49
感谢大大清楚解说 不过小弟想知道为什麽OD单位也是"距离" ex 50um
※ 编辑: gecer (114.32.180.150), 08/15/2016 08:20:09
11F：推 ece8324: 你想像一下打针用的针筒，当针筒戳进某一个物件里，戳进 08/15 13:10
12F：→ ece8324: 去的深度把它类比成针压，这样解释，ok吗 08/15 13:10