作者Kovainen (卡瓦宁)
看板Electronics
标题[问题] DFT Compiler测试涵盖率的问题
时间Sun Aug 21 14:07:56 2016
请问一下板上先进
在使用Synopsys的DFT Compiler时
会有一项是测试涵盖率(Test Coverage)的资讯
请问所代表的意义为何呢?
测试涵盖率越高是否代表电路的容错效果越好?
另外测试涵盖率与错误涵盖率的差别为何呢?
错误涵盖率是否可由DFT Compiler测得呢?
以上问题盼各位DFT领域的高手回答
感激不尽
--
※ 发信站: 批踢踢实业坊(ptt.cc), 来自: 115.43.151.167
※ 文章网址: https://webptt.com/cn.aspx?n=bbs/Electronics/M.1471759679.A.7FC.html
1F:推 Leadgen: 在测你的Pattern跑过多少含盖率。But你的Pattern对不对 08/21 19:16
2F:→ Leadgen: 要自己看,因为对不对只有你自己知道。 08/21 19:16
3F:→ lovepy: fault coverage的分母是所有可能发生的错 08/24 23:17
4F:→ lovepy: test coverage分母是所有可被测得的错 08/24 23:18
5F:→ lovepy: 代表电路本身的可测试性 也隐含了test pattern的quality 08/24 23:20
6F:→ lovepy: DFT Compiler产生的是估算出来的 还要透过ATPG tool真的去 08/24 23:20
7F:→ lovepy: 产生test pattern 算出来的才是真正的test/fault coverage 08/24 23:21
8F:→ lovepy: 详情可参考VLSI Testing的教科书 08/24 23:22
9F:→ lovepy: 若是Coverage低 测试时晶片有错但却检查不出来 出货就G了 08/24 23:26