作者themethod (answer)
看板NEMS
标题[问题] 探针与待测物的接触点
时间Wed Nov 7 17:37:37 2012
各位板大好~
我的实验需要以探针量测某薄膜的电阻vs时间变化
目前是在薄膜上涂导电银胶, 用探针接触导电银胶量测
由於常接触不良, 我便稍微用探针"压"在银胶上确保完全接触
但这样使用多次後银胶会有点变形...
想请问有做过类似量测的板友是怎麽克服呢?
敝实验室在这方面还是新手, 还有请多多指教 <(_ _)>
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※ 发信站: 批踢踢实业坊(ptt.cc)
◆ From: 140.114.43.203
※ 编辑: themethod 来自: 140.114.43.203 (11/07 17:38)
1F：推 HDview:一定会的吧 顶多涂厚一点 11/08 12:11
2F：→ themethod:所以这是正常状况吗!? 11/08 13:15
3F：推 thlu1:正常的吧~看你probing的OD值 11/12 21:36