有N个检查晶片不确定好坏 但知道一定有一半以上是好的 在测试方式是 一个测试平台可以放两个晶片 A B A会检查B 而B会检查A 如果晶片是好的 当它在测试平台上检查的时候就会说 另一个是"good" 或是"bad" 而这个结果是完全可信的 但是如果是坏的 则结果是不可信的 也就是说 测试结果可用下表表示 A B 可能结果 _________________________________________________ B good A good 两个都是好的或是两个都是坏的 B good A bad 至少一个是坏的 B bad A good 至少一个是坏的 B bad A bad 至少一个是坏的 现在有个问题 找出一个方法可以测试出好的晶片 并且说明测试的次数 --

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