作者LPH66 (IWH68S0XZ8M89)
看板Programming
标题Re: [问题] 有关演算法的问题
时间Thu Apr 3 17:38:19 2008
※ 引述《dancs96 (山岚)》之铭言:
: 有N个检查晶片不确定好坏
: 但知道一定有一半以上是好的
: 在测试方式是 一个测试平台可以放两个晶片 A B
: A会检查B 而B会检查A
: 如果晶片是好的
: 当它在测试平台上检查的时候就会说 另一个是"good" 或是"bad"
: 而这个结果是完全可信的
: 但是如果是坏的 则结果是不可信的
: 也就是说 测试结果可用下表表示
: A B 可能结果
: _________________________________________________
: B good A good 两个都是好的或是两个都是坏的
: B good A bad 至少一个是坏的
: B bad A good 至少一个是坏的
: B bad A bad 至少一个是坏的
: 现在有个问题
: 找出一个方法可以测试出好的晶片 并且说明测试的次数
换个方式想
若A好B好 => A回报B good; B回报A good
A好B坏 => A回报B bad; B回报A bad
A坏B好 => A回报B bad; B回报A bad
A坏B坏 => A回报B good; B回报A good
所以其实只有两种回答
依照这两种回答把这N个分成两组
其中同组的人都说对方是good 不同组的人都说对方是bad
那麽多的那组就都是好的 少的那组就都是坏的
--
总觉得这篇在Programming版是走错了...
这比较像是在Math版的东西 XD
--
有人喜欢边
玩游戏边
上逼;
也有人喜欢边
听歌边
打字。
但是,我有个请求,
选字的时候请
专心好吗?
-- 改编自「古 火田 任三郎」之开场白
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◆ From: 140.112.30.84
1F:→ MOONRAKER:是的,这应该是离散数学的题目才对 XD 59.115.216.91 04/03 18:17