刚刚想了一下，可以加上每次的群组 1(TT) 都应该编号抽出来测。 假设共有 64 组 (128 个) ，编号 1 ~ 64 两组互测，用奇数、偶数互测，例如 1,2 ，没发现 F 的话，表示 1,2 组要就全 T ，不然就全 F 。测 32 组。 跳号，1, 3、5, 7... 组互测，表示 1,2,3,4 组绑定。测16组。 跳四号，1,5,9,13... 互测，表示 1,2,3,4,5,6,7,8组绑定。测8组。 跳8号，1,9,17,25... 互测，表示 1~16组绑定。测4组。 跳16号，1,17,33,49 互测，表示 1~32组绑定，测 2组。 跳32号，1,33 互测，表示 1~64组绑定，测 1组。 若运气太好，上述结果全为 T ，只能说全好或全坏。 若肯定 T 个数大於 F ，只少测最後 1 组而已。 其它 2T, 4F 可以组合测出 TT ，进入 TT 测试。 ==> 本文由 "琏琏 <[email protected]>" > 於 news:406437C40C234A8EBB155B793480140C%40c2q6600 发表 > good 用 T (True) 表示，bad 用 F (False) 表示，先 A 後 B > 传回 可能情形 > 1 TT TT -- -- FF (未定，但结果成对) > 2 TF -- TF -- FF (B 坏的, A 未定) > 3 FT -- -- FT FF (A 坏的, B 未定) > 4 FF -- TF FT FF (未定，但一半以上是坏的) > 2, 3 可从结果合并，假设群组 2 为 T ，群组 3 为 F > 得到结果是： > 1 TT (未定，但结果成对) > 2 T (未定) > 3 F (保证是坏的) > 4 FF (未定，但一半以上是坏的) > 题目到此，未说明晶片是否可编号排除重覆测试，或是 1, 4 的群组如何运用。 > 若是实际问题，则不会在测试完成前编号，而且 1 2 会混在一起，主因是量大没人力细分。 > 则问题通常是几轮回测试後，可保证出厂的良品可靠度可达 95% 以上 (或其他要求值) > 接下来的测试若可细分，1 就要求不同组测试，若交插测试出现一个 F ，则两组都是 FF 。 > 但是因为传回的 T 不可靠，所以即使交插测试仍不能确保 T 恒为真，剩下来能利用的变量只剩 T 的个数比 F 多，来达到交叉组数减少的用途。 > 若不能细分，则 1, 2 合并为 2 > 测试其它的组合： > TF (24) > 传回 TF FF 表示 4F 为 Bad、2T 未知 ，传回 FT 表示 2T 为 Bad、4F 未知，传回 TT 仍未知，可依 1, 2, 3 来分群。 > 测试 > TT (22), FF(44) 传回之结果仍为 1, 2, 3, 4 的分群。 > T 的个数比 F 多只表示 TF 数量足够，会多剩余 TT 测，无须测 FF ，若截和前面要求不同组测试，亦可减少测试量。 > 归纳出来的结论： > 一般状况看起来只有 TF 的情况可以肯定 B为 Bad。 > TT的交叉测试若出现 TF FT FF 表示两组均为 Bad 。 > 但没有办法肯定恒为 T ，肯定恒为 T 只有靠 T 的个数比 F 多来达成。 > 所以在工厂只能做风险可靠度分析，比如说台积电就有可靠度工程师，用台积电有的设备来达成国外要求不同设备的产品良率或是使用期限的达成。 > ==> 本文由 "路人系草包 <[email protected]>" > > 於 news:4ZK48W%247eM%40ptt.cc 发表 > > 记得这题是出自抠门的演算法导论 > > 以前读的时候碰到这题也是想不出 > > 刚刚稍有斩获 请大家看看这样行不行 > > 已知 好的大於一半 > > 我的做法是 > > 1. 任取一晶片插入A 其他一一与在A上的晶片测试 如果不是两者都说GOOD > > 就把B换掉 拿新的测 总之就是测到都出GOOD为止 > > 2. 出现两者皆说GOOD 就把两片拿起来放一起 反覆1 最後晶片会两两成对 > > 此时成对的对不管好坏 属性都相同 > > 3. 一对中 两者择一 与其他对择一的晶片 进行1.步骤 把答案相同者 再放一起 > > 反覆到最後剩两堆 由已知 多的那堆是好的 少的那堆是坏的 > > 共做O(logN)次 > > ※ 引述《dancs96 (山岚)》之铭言： > > : 有N个检查晶片不确定好坏 > > : 但知道一定有一半以上是好的 > > : 在测试方式是 一个测试平台可以放两个晶片 A B > > : A会检查B 而B会检查A > > : 如果晶片是好的 > > : 当它在测试平台上检查的时候就会说 另一个是"good" 或是"bad" > > : 而这个结果是完全可信的 > > : 但是如果是坏的 则结果是不可信的 > > : 也就是说 测试结果可用下表表示 > > : A B 可能结果 > > : _________________________________________________ > > : B good A good 两个都是好的或是两个都是坏的 > > : B good A bad 至少一个是坏的 > > : B bad A good 至少一个是坏的 > > : B bad A bad 至少一个是坏的 > > : 现在有个问题 > > : 找出一个方法可以测试出好的晶片 并且说明测试的次数 > > > -- 风禹科技验证有限公司 ASP.NET Web News Reader 0.2.7 UTF-8 Beta 网站地图 http://tlcheng.twbbs.org/wwwmap.htm 流域防洪/区域水资源/徐昇网/玫瑰图/语音通讯 文章与程式 Basic/Fortran/Windows API/.Net/辅助说明档 原始码、文章与讨论 微软程式设计、系统管理使用新技术论坛讨论区，网友回覆後即时简讯、电子邮件通知： MSDN: http://forums.microsoft.com/msdn-cht/default.aspx?siteid=14 TechNet: http://forums.microsoft.com/technet-cht/default.aspx?siteid=23 -- ASPNET News Reader http://tlcheng.twbbs.org/News/Reader.aspx RSS 2.0 http://tlcheng.twbbs.org/News/rss2.aspx?Action=List&Newsgroup=tw.bbs.comp.language