※ 引述《dancs96 (山岚)》之铭言： : 有N个检查晶片不确定好坏 : 但知道一定有一半以上是好的 : 在测试方式是 一个测试平台可以放两个晶片 A B : A会检查B 而B会检查A : 如果晶片是好的 : 当它在测试平台上检查的时候就会说 另一个是"good" 或是"bad" : 而这个结果是完全可信的 : 但是如果是坏的 则结果是不可信的 : 也就是说 测试结果可用下表表示 : A B 可能结果 : _________________________________________________ : B good A good 两个都是好的或是两个都是坏的 : B good A bad 至少一个是坏的 : B bad A good 至少一个是坏的 : B bad A bad 至少一个是坏的 : 现在有个问题 : 找出一个方法可以测试出好的晶片 并且说明测试的次数 有点旧的话题 这两天突然想到一个方法, 不知会不会比较有效率一点? 重点在於 好的 比 坏的 多 随便从晶片里抽一个出来, 和剩下的逐一比对. 只要有其中一个报告 bad, 则这对拿起来放在一边. 然後在晶片堆拿下一个, 继续做. 直到有一颗晶片, 和其他剩下的所有晶片检查结果都是 good. 这时, 剩下的所有晶片都是都是好的. 再用这些好的晶片来检查之前放在一边的那堆就好了. 这方法一定要肯定好的比坏的多才能成立 alien --

※ 发信站: 批踢踢实业坊(ptt.cc) ◆ From: 219.78.81.71