※ 引述《琏琏 <[email protected]>, 看板: Programming》之铭言： : 我了解了。 : 必要条件是 good > bad ，不能等於 : 所以至少会剩下 TT 或 T ，再以此 T 为基准做所有的测试。 对了 :) : 但已测试的结果无法有效利用，测试次数会比较多，无法达到测试次数最小化。 因为我不是本科出身, 不太懂分析 complexity. 但我自己看这个方法好像测试次数蛮少的 (之前看到很多都是不断交替测试) 这个方法, 假设 N 个晶片, 坏的 m 个, 最多只是 m*(N-m+1) + (N-m) + m*2 次的比对. 而一般来说比对的次数还要少很多很多 (要碰巧所有的坏晶片都放到最後) 有人可以教教我, 我这个方法的 complexity 怎麽 算吗? (早阵子买了一本相关的书自学可是没 有太多时间看 :( ) --

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